• Сайт производителя

Отправить запрос

Nikon Metrology

 Системы контроля, которые дают возможность получить полную информацию о сложных промышленных деталях, заглядывая "внутрь" их структур с помощью рентгеновских лучей и компьютерной томографии (КТ) :

• Системы контроля на базе рентгеновских лучей и компьютерной томографии 
• Измерительные приборы 
• Измерительные системы с ЧПУ 
• Интерферометрические микроскопы белого света 
• 3D-метрология 
• Проверка большого объема 
• Рентгеновские и КТ-обследования 
• Микроскопы 
• Оборудование для полупроводниковой инспекции

Сканирование лазером

Сканирование CMM         L100, LC15Dx, XC65Dx-LS, LC60Dx
Ручное сканирование     ModelMaker MMDx, K-Scan MMDx, ModelMaker H120
Программное обеспечение Point cloud     Focus Scan, Focus Handheld, Focus Inspection

Координатно-измерительные машины (КИМ) и манипуляторы

Мостовые КИМ        ALTERA CMM Series, ALTERA SL High-speed scanning bridge CMM, ALTO Aluminium Bridge CMM, Rail-mounted bridge CMM
Портальные КИМ    LK V-GP High accuracy gantry CMM
КИМ с горизонтальными измерительными руками             LK H Premium horizontal arm CMM
Цеховые координатно-измерительные машины КИМ        In-line CMM automation

Бесконтактная проверка зубчатого колеса

HN-C3030 - High-speed, high-precision, non-contact 3D metrology

Портативные координатно-измерительные машины КИМ

Измерительные манипуляторы      MCAx Manual Измерительные руки (зона измерений – до 2-4 м, в зависимости от модели), MCAx20+, MCAx25+, MCAx30+, MCAx35+, MCAx40+, MCAx45+, MCAx20, MCAx25, MCAx30, MCAx35, MCAx40, MCAx45
Оптический КИМ               K-CMM 
Ручное сканирование      ModelMaker MMDx, K-Scan MMDx, ModelMaker H120

Рентгеновский и КТ-осмотр

Компьютерные томографы    XT H 225, XT H 225 ST, XT H 320, XT H 450, In-process CT
КТ Метрология     MCT225
Конфигурируемые Рентгеновские системы КТ    M1 configurable X-ray, M2 high-precision X-ray CT inspection system, C2 extra large-envelope X-ray
Электронный контроль    XT V 130C, XT V 160

Крупномасштабная метрология

Лазерный Радар    MV331/351 - Автоматизированная, бесконтактная крупномасштабная метрология

Видео измерительные системы

iNEXIV VMA-2520, iNEXIV VMA-6555, iNEXIV VMA-4540
Высокоскоростные высокоточные настольные видеокамеры nikon metrology vision iNEXIV VMA  предназначены для удовлетворения производственных требований по автоматическим измерениям механических деталей, электронных устройств и др.

NEXIV VMR-H3030, NEXIV VMZ-R3020, NEXIV VMZ-R4540, NEXIV VMZ-R6555, NEXIV VMZ-K3040, NEXIV VMZ-K6555
Сверхвысокая точность. Высококачественная автоматическая система обзора Nikon. Идеально подходит, когда важна исключительная точность, например для калибровки стандартов и датчиков, мастер-штампов и пресс-форм и для трудно измеримых или сверхмалых прецизионных деталей.

Оптические измерительные системы

Измерительные микроскопы    MM-200, MM400/800
Оптические компараторы          V-12B, V-20B
Автоколлиматоры                        6D autocollimator, 6B autocollimator
Цифровые датчики высоты       MF-501, MF-1001

Промышленные микроскопы

Вертикальные микроскопы     AZ100 Multizoom, Eclipse LV100ND, Eclipse LV100NDA, Eclipse LV150N, Eclipse LV150NA, Eclipse LV150NL, Eclipse L200N Series, Eclipse L300N Series, Eclipse LV100N POL, Eclipse Ci-POL, Eclipse E200POL, Eclipse LV-DAF, NWL200
Перевернутые микроскопы     Eclipse MA100N, Eclipse MA200
Стереомикроскопы                     SMZ25/18, SMZ1270, SMZ1270i, SMZ745/745T, SMZ445/460, SMZ800N
Измерительные микроскопы   MM-200, MM400/800

Контроль полупроводников

Полупроводниковое оборудование    NWL200, NEXIV VMR-C4540
Полупроводниковые микроскопы       Eclipse LV100ND, Eclipse LV100NDA, Eclipse LV150N, Eclipse LV150NA, Eclipse LV150NL, Eclipse L200N Series, Eclipse L300N Series