• Перейти к каталогу
• Сайт производителя

Отправить запрос

Оборудование для нанотехнологических исследований. NT-MDТ предоставляет экспертные услуги и разработку приложений через 5 представительств и более 40 дистрибьюторов по всему миру . В течение последних пяти лет, компания установила более 2000 инструментов, способствуя росту и лабораторных, и научно-исследовательских программ по всему миру.

Ассортимент продукции представлен сегодня следующими линиями оборудования:  

1. сканирующие зондовые микроскопы (SPM) для образовательных нужд;
2. полностью автоматизированные инструменты AFM / STM для научных и промышленных исследовательских центров;
3. Probe NanoLaboratories, объединяющий весь спектр современных технологий с АСМ;
4. модульные нанофабрики, объединяющие весь арсенал средств и технологий, необходимых для обработки и обеспечения качества устройств / элементов микро- и наноэлектроники;
5. принадлежности, зонды, испытательные образцы и калибровочные решетки для зондовой микроскопии

TERS AFM probes new

Надёжные и высококачественные зонды кантилеверного типа для получения TERS
Основные преимущества:

Усиление сигнала: 100x и более;

Латеральное разрешение TERS: до 10 нм;

Высокоскоростное картирование TERS;

Возможность работы в режиме засветки сверху или снизу (актуально для прозрачных образцов);

Выпускаются на основе АСМ кантилеверов серии VIT_P, которые используются для получения АСМ-Раман сканов высокого качества во всех возможных методиках (контакт, полуконтакт).

AFM probe ETALON series new

ETALON - это новая серия композитных АСМ зондов высокого качества с двумя кантилеверами на каждом чипе. В терминах цены-качества данная модель не имеет аналогов на мировом рынке кантилеверов.
Новая технология НТ-МДТ сочетает все серьёзные преимущества в одном чипе:
• Острый зонд (радиус закругления менее 10 нм);
• Высокая точность специфицируемой резонансной частоты (±10%);
• Две балки на одном чипе;
• Специальная геометрия чипа для удобства в использовании;
• Высокое аспектное соотношение зонда;
• Повышенное отражение рабочего лазера с верхней плоскости балки.

AFM probes GOLDEN series

НТ-МДТ предлагает широкий выбор АСМ кантилеверов для работы во всех основных методиках АСМ.
Кантилеверы могут поставляться с отражающим покрытием и без него, с проводящим или магнитным покрытиями. Острия зондов высокой остроты позволяют получать качественные изображения самых разных образцов. Чипы зондовых датчиков обладают стандартными размерами, что обеспечивает их совместимость с большинством коммерческих АСМ приборов.

АСМ - Раман - СБОМ

Интеграция атомно-силовой микроскопии с оптическими методами исследования

ИНТЕГРА Спектра II

Многофункциональная автоматизированная АСМ-Раман, СБОМ и TERS система

ИНТЕГРА Нано ИК

Ультрастабильный АСМ-ИК & СБОМ для микроскопии и спектроскопии

Модульные СЗМ

АСМ системы широкого применения. Конфигурирование под конкретную задачу

ИНТЕГРА Прима

Модульный СЗМ, может быть сконфигурирован для проведения узкоспециализированных АСМ и СТМ исследований.

ИНТЕГРА Аура

АСМ для работы в условиях контролируемой атмосферы, низкого вакуума, внешних магнитных полей

• Автоматизированные АСМ

Новая линия простого в использовании  АСМ / СТМ оборудования для применения  в науке и промышленности

NEXT

Моноблочный автоматизированный АСМ/СТМ измерительный комплекс широкого применения.

TITANIUM

Первый действительно полностью автоматизированный АСМ - револьверная измерительная головка с многозондовым картриджем обеспечивает автоматическую смену кантилеверов.

LIFE

Интегрированный с инвертированным оптическим микроскопом АСМ, предназначенный для биологических и медицинских исследований в условиях, близких к физиологическим.

OPEN

СЗМ OPEN обладает широчайшим набором методов измерений, сочетает высокое разрешение и гибкость применений.

VEGA

Высокопроизводительный атомно-силовой микроскоп для большеразмерных образцов

• Специализированные СЗМ

Линия АСМ / СТМ оборудования для специализированных применений 

в образовании и промышленности

НАНОЭДЮКАТОР II

Учебный сканирующий зондовый микроскоп для преподавания основ зондовой микроскопии и нанотехнологии. Атомно-силовой микроскоп для неразрушающей диагностики  конструкционных материа

СОЛВЕР Пайп

Диагностический комплекс на основе атомно-силового микроскопа для раннего выявления дефектов металлоконструкций действующего оборудования